Ceyear思仪 6433D,6433F,6433H,6433L光波元件分析仪
技术规范
| 主机型号 | ||
| 编号 | 名称 | 描述 |
| 6433D | 光波元件分析仪 | 频率范围:10MHz～26.5GHz |
| 6433F | 光波元件分析仪 | 频率范围:10MHz～43.5GHz |
| 6433H | 光波元件分析仪 | 频率范围:10MHz～50GHz |
| 6433L | 光波元件分析仪 | 频率范围:10MHz～67GHz |
| 选件型号 | ||
| 编号 | 名称 | 描述 |
| 6433L-480 | 四端口扩频系统电缆选件 | 四端口矢量网络分析仪直接搭建扩频系统时必选连接电缆 |
| 6433L-008 | 脉冲测量选件 | 用于脉冲状态下S参数测量 |
| 6433L-006 | 英文选件 | 英文面板及英文操作系统、软件 |
| 6433L-402 | 有源互调失真测量选件 | 有源互调失真信号测量（必选400、S80） |
| 6433L-401 | 四端口程控步进衰减器选件 | 源通路4个程控步进衰减器，接收机通路4个程控步进衰减器 |
| 6433L-400 | 四端口测量选件 | 双源激励四端口网络分析仪 |
| 6433L-201 | 二端口程控步进衰减器选件 | 源通路2个程控步进衰减器，接收机通路2个程控步进衰减器 |
| 6433H-480 | 四端口扩频系统电缆选件 | 四端口矢量网络分析仪直接搭建扩频系统时必选连接电缆 |
| 6433H-008 | 脉冲测量选件 | 用于脉冲状态下S参数测量 |
| 6433H-006 | 英文选件 | 英文面板及英文操作系统、软件 |
| 6433H-402 | 有源互调失真测量选件 | 有源互调失真信号测量（必选400、S80） |
| 6433H-401 | 四端口程控步进衰减器选件 | 配置源通路4个程控步进衰减器和接收机通路4个程控步进衰减器 |
| 6433H-400 | 四端口测量选件 | 双源激励四端口网络分析仪 |
| 6433H-201 | 二端口程控步进衰减器选件 | 源通路2个程控步进衰减器，接收机通路2个程控步进衰减器 |
| 6433F-480 | 四端口扩频系统电缆选件 | 四端口矢量网络分析仪直接搭建扩频系统时必选连接电缆 |
| 6433F-008 | 脉冲测量选件 | 用于脉冲状态下S参数测量 |
| 6433F-006 | 英文选件 | 英文面板及英文操作系统、软件 |
| 6433F-402 | 有源互调失真测量选件 | 有源互调失真信号测量（必选400、S80） |
| 6433F-401 | 四端口程控步进衰减器选件 | 源通路4个程控步进衰减器，接收机通路4个程控步进衰减器 |
| 6433F-400 | 四端口测量选件 | 双源激励四端口网络分析仪 |
| 6433F-201 | 二端口程控步进衰减器选件 | 源通路2个程控步进衰减器，接收机通路2个程控步进衰减器 |
| 6433D-480 | 四端口扩频系统电缆选件 | 四端口矢量网络分析仪直接搭建扩频系统时必选连接电缆 |
| 6433D-008 | 脉冲测量选件 | 用于脉冲状态下S参数测量 |
| 6433D-006 | 英文选件 | 英文面板及英文操作系统、软件 |
| 6433D-402 | 有源互调失真测量选件 | 有源互调失真信号测量（必选400、S80） |
| 6433D-401 | 四端口程控步进衰减器选件 | 源通路4个程控步进衰减器，接收机通路4个程控步进衰减器 |
| 6433D-400 | 四端口测量选件 | 双源激励四端口网络分析仪 |
| 6433D-201 | 二端口程控步进衰减器选件 | 源通路2个程控步进衰减器，接收机通路2个程控步进衰减器 |
| 软件型号 | ||
| 编号 | 名称 | 描述 |
| 6433L-S80 | 频偏测量选件 | 用于频率偏移测量，毫米波扩频主机需选配该选件 |
| 6433L-S11 | 时域分析选件 | 用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等 |
| 6433L-S10 | 时域测量选件 | 用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不连续位置并进行分析 |
| 6433L-S07 | AFR自动夹具移除选件 | 用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除 |
| 6433H-S80 | 频偏测量选件 | 用于频率偏移测量，毫米波扩频主机需选配该选件 |
| 6433H-S11 | 时域分析选件 | 用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等 |
| 6433H-S10 | 时域测量选件 | 用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不连续位置并进行分析 |
| 6433H-S07 | AFR自动夹具移除选件 | 用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除 |
| 6433F-S80 | 频偏测量选件 | 用于频率偏移测量，毫米波扩频主机需选配该选件 |
| 6433F-S11 | 时域分析选件 | 用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等 |
| 6433F-S10 | 时域测量选件 | 用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不连续位置并进行分析 |
| 6433F-S07 | AFR自动夹具移除选件 | 用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除 |
| 6433D-S80 | 频偏测量选件 | 用于频率偏移测量，毫米波扩频主机需选配该选件 |
| 6433D-S11 | 时域分析选件 | 用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等 |
| 6433D-S10 | 时域测量选件 | 用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不连续位置并进行分析 |
| 6433D-S07 | AFR自动夹具移除选件 | 用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除 |
6433系列光波元件分析仪包括6433D（10MHz～26.5GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）4个型号。6433系列光波元件分析仪是面向高速电光（E/O）器件、光电（O/E）器件、光光（O/O）器件特性测试的解决方案，调制频率范围覆盖10MHz~67GHz，支持不同频率范围、频率间隔、中频带宽的设置，小频率分辨率达到1Hz。6433系列采用一体集成的设计方案，通过宽带硬件优化设计，构建网络误差模型，利用核心校准算法，实现一键式宽带快速扫频测试，主要用于现代高速光传输系统中核心的电光器件（电光调制器、直接调制激光器、光发射组件）、光电器件（PIN光电探测器、APD光电探测器、光接收组件）、光光器件（光纤滤波器等光无源器件）的带宽、幅频响应、相频响应、群时延等参数测试。
主要特点
校准方便快捷，向导式操作流程
一体化多功能操作界面
大动态测量范围，测量轨迹噪声小
用户数据自动移除，为在片测试提供扩展使用
单端-平衡光电器件模式测量
多功能化工具箱
内、外部光源波长设定，更宽的通信波长测试范围
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