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逻辑芯片部分功能检测测试方案

分类：仪器百科发布时间：2024-01-17 1090次浏览

芯片功能测试是电子产品制造过程中的一项重要步骤。它包括以下多个方面的测试，其中逻...

芯片功能测试是电子产品制造过程中的一项重要步骤。它包括以下多个方面的测试，其中逻辑测试是比较重要的一部分：它包括功能测试、时序测试、性能测试、稳定性测试等，主要通过检测芯片内部的逻辑电路是否正确、时序是否符合规定、性能是否达标以及工作状态是否稳定来判断芯片是否正常。

　　在这个测试过程中，一个满足需求的信号是比较重要的，

　　首先检查其外形是否完整，有无引脚脱落或者其他损坏情况。检查完后可以接入电路，将芯片放置好之后，根据测试需要对不同引脚接入信号，信号是通过信号源（任意波发生器）来进行实现的。选择记录输入、输出波形，并对波形进行分析。运用逻辑电平，通过电平判断；两种方式来判断。

　　主要测试内容：

　　通过信号源给逻辑芯片信号，利用示波器测量输入输出的脉冲信号的基本参数，进行分析。

　　使用仪器：

　　泰克三系示波器

　　鼎阳SDG7102A信号源

　　线缆若干

　　测试需求：

　　①频率为1kHz，4.5Vp-p，上升沿分别为为2ns，6ns的脉冲信号；

　　②能检测小上升时间2ns的示波器；

　　③逻辑芯片匹配的电路板

　　仪器的选择：

　　首先寻找一款能够生成满足信号要求的信号源：

　　信号源

　　信号源的选择一方面得考虑可以生成满足要求的信号，另一方面就得考虑生成信号的质量

　　一般建议根据技术手册查找后再实际使用仪器进行实际输出测试，确保理论和实际在一定范围内是吻合的，满足需求。

　　示波器

　　寻找一款能够满足测试需求的示波器，这个就牵扯到示波器带宽和上升时间的关系，首先要保证的就是仪器的上升时间快于信号的上升时间，那具体快多少，如何选择呢？

　　这里就不得不提到示波器带宽和上升时间的关系。具体来说说看

　　-3dB是按照信号的功率增益下降一半得出来的，大家都知道功率与电压的平方成正比，故当功率增益下降一半时，电压随着频率增加降为原来的0.707倍。

　　比如给一个500MHz带宽的示波器输入一个500MHz，峰峰值为1V的方波信号，此时测出的结果约为0.7V，所以示波器对测量信号的幅度上也会有衰减。

　　根据上升时间的定义，幅度的误差必然会导致上升时间的出错，从而引入了误差。在日常使用中，对示波器测得的上升时间，必须考虑到示波器对其的影响。